A. SEM Hitachi S-2400 com EDS Bruker 

Microscópio electrónico de varrimento SEM analítico com canhão de electrões por emissão térmica, com detectores de electrões secundários e retrodifundidos, da marca Hitachi, modelo S-2400, equipado com um sistema de microanálise por espectrometria de dispersão de energia de raios-X (EDS) da marca Bruker.

B. FE SEM JEOL JSM-7001F com EDS Oxford INCA 250

Microscópio electrónico de varrimento SEM analítico de alta resolução com canhão de electrões por emissão Schottky (SE), com detectores de electrões secundários e retrodifundidos, da marca JEOL, modelo JSM-7001F, equipado com um sistema de microanálise por espectrometria de dispersão de energia de raios-X (EDS), com detector de elementos leves, e com um sistema de detecção e análise de padrões de difracção de electrões retrodifundidos (EBSD), ambos da marca Oxford e modelo INCA 250.

C. TEM Hitachi H8100 II com EDS ThermoNoran

Microscópio electrónico de transmissão TEM, marca Hitachi e modelo H-8100 II, de 200kV e com canhão de electrões por emissão térmica através de um filamento de LaB6, com porta-amostras double-tilt que inclina a amostra em 2 direcções perpendiculares 90° e 60°, equipado com um sistema de microanálise por espectrometria de dispersão de energia de raios-X (EDS), com detector de elementos leves da marca ThermoNoran, modelo NoranSystem Six, e com aquisição digital de imagem através de uma câmara CCD MegaView II bottom-mounted..