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A. HR-SEM-SE/EDS: SEM marca Hitachi, modelo SU-70 e EDS
marca Bruker, modelo QUANTAX 400
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Microscópio electrónico de varrimento SEM analítico e de alta resolução com
canhão de electrões por emissão Schottky (SE), com detectores de electrões
secundários e retrodifundidos, da marca Hitachi, modelo SU-70, com um sistema de
microanálise por espectrometria de dispersão de energias de raios-X/EDS, com o
Detector XFlash 4010 de elementos leves, sem azoto líquido, marca Bruker, modelo
QUANTAX 400.
PÓLO DA
UNIVERSIDADE DE AVEIRO
CICECO
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B. FE_SEM-EDS/EBSD: marca FEI, modelo Nova 200 NanoSEM e
marca EDAX, modelo Pegasus X4M. |
Microscópio Electrónico de Varrimento de Ultra-Alta Resolução com Emissão de
Campo da marca FEI, modelo Nova 200 NanoSEM, com sistema de microanálise por
raios-X (EDS) e um sistema de detecção e análise de padrões de difracção de
electrões rectrodifundidos (EBSD) marca EDAX, modelo Pegasus X4M.
.PÓLO DA
UNIVERSIDADE DO MINHO
SEMAT
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C. FEG_ESEM - EDS/EBSD: marca FEI, modelo Quanta 400 FEG e
marca EDAX modelo Pegasus X4M |
Microscópio electrónico de varrimento ambiental de efeito de campo (Schottky)
FEG_ESEM com sistema de microanálise por raios X (EDS) e um sistema de detecção
e análise de padrões de difracção de electrões rectrodifundidos (EBSD).
PÓLO DA
UNIVERSIDADE DO PORTO
CEMUP
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D. Unidade Cryo-SEM: marca Gatan modelo ALTO 2500 |
Unidade
de Cryo-SEM para preparação/transferência e observação de amostras a baixa
temperatura (LN2) associada ao microscópio electrónico FESEM JEOL JSM6301F.
PÓLO DA
UNIVERSIDADE DO PORTO
CEMUP
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D.
ESEM /
EDS
FEI
Quanta 400 com EDS marca EDAX |
Microscópio electrónico de varrimento ambiental ESEM com sistema de microanálise por raios X (EDS).
PÓLO DA
UNIVERSIDADE DE TRÁS-OS-MONTES E ALTO DOURO
UME
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E. SEM /
EDS
Hitachi S-2400 EDS
Bruker |
Microscópio electrónico de varrimento SEM
analítico com canhão de electrões por emissão térmica, com
detectores de electrões secundários e retrodifundidos, da marca
Hitachi, modelo S-2400, equipado com um sistema de microanálise
por espectrometria de dispersão de energia de raios-X (EDS) da
marca Bruker.
PÓLO DO INSTITUTO SUPERIOR TÉCNICO
MicroLab
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F. FE_SEM - EDS/EBSD JEOL JSM-7001F EDS
/ EBSD Oxford INCA 250 |
Microscópio electrónico de varrimento SEM analítico de alta
resolução com canhão de electrões por emissão Schottky (SE), com detectores
de electrões secundários e retrodifundidos, da marca JEOL, modelo JSM-7001F,
equipado com um sistema de microanálise por espectrometria de dispersão de
energia de raios-X (EDS), com detector de elementos leves, e com um sistema
de detecção e análise de padrões de difracção de electrões retrodifundidos (EBSD),
ambos da marca Oxford e modelo INCA 250.
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PÓLO DO INSTITUTO SUPERIOR TÉCNICO
MicroLab
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